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红外热像检测技术系列学术研讨会活动安排
作者:维泰凯信  发布日期:2011-2-12

        应北京维泰凯信新技术有限公司邀请,美国 TWI 公司总裁斯蒂夫博士将于2011年4月23日-29日访华。斯蒂夫博士是红外热像检测技术方面国际知名学者,美国无损检测学会(ASNT)红外检测的Ⅲ级教师,ASTM红外热像检测标准E 2582 – 07的起草人。他不仅有独到的理论研究成果,而且有丰富的实际应用经验。

        以斯蒂夫博士访华的契机,为了推广红外热像检测技术,促进该技术在我国国民经济各领域的应用,无损检测学会非常规检测专业委员会将在上海、成都、北京等地举办红外热像检测技术专题系列研讨会,各地研讨会分别由《无损检测》杂志社、成飞集团无损检测中心和首都师范大学、北京维泰凯信新技术有限公司等单位承办。研讨活动主要内容包括:
        1、斯蒂夫博士将介绍该技术在美国航空、航天、电力、材料、石化等领域成功的应用和最新研究进展;
        2、TWI专业红外热像检测设备的现场演示、试验;
        3、首都师范大学介绍美国ASNT红外检测Ⅲ级证书的取证的经验;
        4、与会代表的研究成果与应用经验交流。
        有兴趣参加者可根据如下拟定的日程选择适合的时间、地点参加,并提前报名,以便安排。
        1、2011年4月24日:在上海材料研究所大会议室举办报告和学术交流会。
        2、2011年4月25日:在成都成飞宾馆举办报告和学术交流会。
        3、2011年4月28日:在北京首都师范大学举办报告和学术交流会。
        此外, TWI公司在4月27日-4月29日期间还将参加第五届中国国际无损检测应用技术展览会,在北京中国国际贸易中心设有展位(3098),现场将有设备展示和现场实验。
        所有研讨会活动不收费,旅差、食宿费用参加者自理。有兴趣参加者,请于3月15日前报名,以便发送正式通知:

上海:
《无损检测》编辑部,符艳
电话:021-65556775-225
传真:021-65544911
地址:200437 上海市邯郸路99号
电子邮件:ndt@mat-test.com

成都:
成飞集团无损检测中心,陈友林
电话:028-87408640
电子邮件:youlingc@163.com

北京:
首都师范大学物理系,陶宁、李晓丽
电话:010-68902940,68980976 传真:68980976
电子邮件:lixiaoli.127@163.com


无损检测学会
非常规检测专业委员会
2011-2-11

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